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EN 14784-2与ISO 17636-2标准中CR技术要求的比较

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2015-02-20

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资料简介

对EN 14784-2标准与ISO 17636-2标准在计算机射线照相（CR）技术要求方面的差异提出分析，包括像质计的使用，系统不清晰度、最小信噪比、灵敏度补偿、最高电压图、观测条件、最小读出强度及最小灰度等方面内容。经过比较得出结论，在对CR技术的要求上，ISO 17636-2标准不管在理论还是概念上,均较EN 14784-2更为合理、灵活，更易为检测人员接受和理解，更适应现实设备及工作需要。

所属栏目

标准化

收稿日期

2015/2/20

作者单位

李亚军:珠海市质量计量监督检测所， 珠海 519000
吴勇:苏阀福斯核电设备（苏州）有限公司， 苏州 215151
骆亍:珠海市质量计量监督检测所， 珠海 519000

备注

李亚军(1980-),男,工学学士,助理工程师,主要从事无损检测工作。

引用该论文:

LI Ya-jun,WU Yong,LUO Chu.The Comparison of CR Technology Requirements between EN 14784-2 and ISO 17636-2 Standard[J].Nondestructive Testing,2015,37(12):56～58
李亚军,吴勇,骆亍.EN 14784-2与ISO 17636-2标准中CR技术要求的比较[J].无损检测,2015,37(12):56～58


参考文献

【1】

王军，强天鹏，郑凯.从ISO 17636-2标准看数字射线检测技术的发展趋势［J］.无损检测， 2012,34(12):33-36.
标准分享网无损检测论文频道,免费下载【EN 14784-2与ISO 17636-2标准中CR技术要求的比较】,仅供学习使用,不得商用,如需商用请购买正版EN 14784-2与ISO 17636-2标准中CR技术要求的比较。谢谢合作

【关键词】 技术要求 差异 CR技术  李亚军 吴勇 骆亍

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