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金属磁记忆传感器封装技术
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2011-11-02

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资料简介

通过分析压力传感器和FBG传感器的结构,针对金属磁记忆传感器自身特点,结合井下作业要求,提出了金属磁记忆传感器的封装设计原则;根据该原则,设计出了一种金属磁记忆传感器的封装结构,并对其进行了有限元模拟分析;对封装后的金属磁记忆传感器实物进行了室内压力试验研究,确定了该设计的可靠性。

所属栏目

试验研究国家科技支撑计划资助项目(2008BAB37B04)

收稿日期

2011/11/2

作者单位

张广伟:中国石油大学(北京) 机械与储运工程学院,北京102249
张来斌:中国石油大学(北京) 机械与储运工程学院,北京102249
樊建春:中国石油大学(北京) 机械与储运工程学院,北京102249
孙秉才:中国石油大学(北京) 机械与储运工程学院,北京102249
齐立娟:中国石油大学(北京) 机械与储运工程学院,北京102249
赵坤鹏:中国石油大学(北京) 机械与储运工程学院,北京102249
张仁庆:中国石油大学(北京) 机械与储运工程学院,北京102249

备注

张广伟(1986-),男,硕士研究生,研究方向为机械设备状态监测与故障诊断,从事金属磁记忆应用技术研究。

引用该论文:

ZHANG Guang-Wei,ZHANG Lai-Bin,FAN Jian-Chun,SUN Bing-Cai,QI Li-Juan,ZHAO Kun-Peng,ZHANG Ren-Qing.Packaging Technology of the Metal Magnetic Memory Sensor[J].Nondestructive Testing,2013,35(1):56~60
张广伟,张来斌,樊建春,孙秉才,齐立娟,赵坤鹏,张仁庆.金属磁记忆传感器封装技术[J].无损检测,2013,35(1):56~60


参考文献

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【关键词】 金属磁记忆 传感器 封装 压力试验  张广伟 张来斌 樊建春 孙秉才 齐立娟 赵坤鹏 张仁庆

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