为了解脉冲漏磁检测中涡流效应的特点，奠定进一步分析脉冲漏磁检测信号的基础，建立了脉冲漏磁检测的有限元仿真模型，观察了检测中瞬态磁场和感生涡流的分布，分析了感生涡流特征量的特点及影响因素。结果表明，脉冲漏磁检测中，瞬态磁场和感生涡流总体上符合集肤效应并相互影响，其中感生涡流具有渗透深度浅、感应强度大的特点，涡流密度峰值时间在深度方向上有较强的分辨率。电导率和磁导率影响感生涡流的渗透深度和密度峰值时间在深度方向上的分辨率；脉冲激励上升时间常数只影响感生涡流的渗透深度，而和密度峰值时间在深度方向上的分辨率无关。

所属栏目

科研成果与学术交流河北省自然科学基金资助项目(E2008001258)

收稿日期

2011/3/28

作者单位

费骏骉:军械工程学院 电气工程系，石家庄05000377159部队，眉山620010
左宪章:军械工程学院 电气工程系，石家庄050003
田贵云:纽卡斯尔大学 电气电子与计算机工程学院，纽卡斯尔
张云:军械工程学院 电气工程系，石家庄050003
张韬:军械工程学院 电气工程系，石家庄050003

备注

费骏骉(1984-)，男，硕士研究生，研究方向为电磁无损检测。

引用该论文:

FEI Jun-Biao,ZUO Xian-Zhang,TIAN Gui-Yun,ZHANG Yun,ZHANG Tao.Eddy Current Effect in Pulsed Magnetic Flux Leakage Testing[J].Nondestructive Testing,2012,34(2):5～10
费骏骉,左宪章,田贵云,张云,张韬.脉冲漏磁检测中的涡流效应[J].无损检测,2012,34(2):5～10

参考文献

【1】

John W Wilson, Gui Yun Tian. Pulsed electromagnetic methods for defect detection and characterisation［J］. NDT&E International,2007,40(4):275-283.

【2】

Sophian A, Tian G Y, Zairi S. Pulsed magnetic flux leakage techniques for crack detection and characterization［J］. Sendors and Actuators A,2006,125(2):186-191.

【3】

Tian Lu Chen, Gui Yun Tian, Ali Sophian, et al. Feature ext raction and selection for defect classification of pulsed eddy current NDT ［J］.NDT&E International,2008,41(6):467-476.

【4】

Huang Zuoying, Que Peiwen, Chen Liang. 3D FEM analysis in mengnetic flux leakage method［J］. NDT&E International,2006,39(1):61-66.

【5】

Ali Sophian, Gui Yun Tian, David Taylor, et al. A feature extraction technique based on principal component analysis for pulsed Eddy current NDT［J］. NDT&E International,2003,36(1):37-41.

【6】

John Bowler, Marcus Johnson. Pulsed eddy-current response to a conducting half-space［J］. IEEE Transactions on Magnetics,1997,33(3):2258-2264.

【7】

Javier García-Martín, Jaime Gómez-Gil, Ernesto Vázquez Sánchez. Review non-destructive techniques based on eddy current testing［J］. Sensors,2011,11(3):2525-2565.

【8】

J.Blitz, T.S.Peat. The Application of Multi-frequency Eddy Currents to Testing Ferromagnetic Metals［J］. NDT&E International,1981,14(1):15-17.

【9】

Gui Yun Tian, Ali Sophian. Defect classificiation using a new feature for pulsed eddy current sensors［J］. NDT&E International,2005,38(1):77-82.