结合椭圆定位方法，分别采用了线型、十字型和时钟型超声压电晶片阵列对金属薄板中缺陷进行成像识别。根据Lamb波在薄板中的传播分析，选取激励信号及其参数，构建超声信号检测模型。依据椭圆轨迹原理进行成像，判断薄板中有无缺陷存在。通过压电陶瓷晶片加载脉冲激励信号，分别对三种情况进行数据处理并成像。结果证明十字型和时钟型阵列能有效地对缺陷成像，并避免了成像过程中的虚像。

所属栏目

科研成果与学术交流铁道部科技研究开发计划资助项目(2011J011-E)

收稿日期

2012/2/27

作者单位

袁魁:上海海事大学 物流工程学院，上海201306上海应用技术学院 电气与电子工程学院，上海201418
沈希忠:上海海事大学 物流工程学院，上海201306

备注

袁魁(1988-)，男，硕士研究生，研究方向为超声检测成像。

引用该论文:

YUAN Kui,SHEN Xi-Zhong.The Imaging of Plate Defect Based on Several Ultrasonic Piezoelectirc Arrays[J].Nondestructive Testing,2013,35(3):1～4
袁魁,沈希忠.基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像[J].无损检测,2013,35(3):1～4

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