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位置：标准分享网>无损检测论文>基于CCD的中子数字照相系统成像速度分析
基于CCD的中子数字照相系统成像速度分析

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2005-09-12

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资料简介

成像速度是中子冷阴极放电器(CCD)数字照相系统的主要性能参数。根据中子数字照相的原理、光学成像的基本关系式和CCD的特性，提出了一种基于CCD的中子数字照相系统的成像速度理论推算方法，对SPRR300中子数字照相系统成像速度进行了计算，并与试验结果相比较证明，理论计算与试验基本吻合，计算方法可信。

所属栏目

试验研究

收稿日期

2005/9/12

作者单位

唐彬:中国工程物理研究院 核物理与化学研究所，四川绵阳621900
李西安:中国工程物理研究院 核物理与化学研究所，四川绵阳621900
霍合勇:中国工程物理研究院 核物理与化学研究所，四川绵阳621900
薛斌:中国工程物理研究院 核物理与化学研究所，四川绵阳621900

备注

唐彬(1969-)，硕士，高级工程师，主要从事中子照相技术及应用研究。

引用该论文:

TANG Bin,LI Xian,HUO Heyong,XUE Bin.Analysis of the Imaging Speed of the CCD Based Neutron Digital Radiography System[J].Nondestructive Testing,2007,29(1):39～41
唐彬,李西安,霍合勇,薛斌.基于CCD的中子数字照相系统成像速度分析[J].无损检测,2007,29(1):39～41


参考文献

【1】

唐彬，李西安，张松宝，等.热中子数字成像系统的研制[J].CT理论与应用研究,2004,13(4):20-25.

【2】

李晓彤，岑兆丰.几何光学、像差、光学设计[M].杭州：浙江大学出版社,2003.

【3】

张俊哲.无损检测技术及其应用[M].北京：科学出版社,1993.

【4】

Baechlor S, Materna T. Setup of a CCD based detection system at the NCR beamline(PSI)[R]. Germany: STSM Report,2001.

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【关键词】 射线检验 中子照相 CCD 成像速度  唐彬 李西安 霍合勇 薛斌

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