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核电站安全壳X光底片伪缺陷的产生及防止办法

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2011-06-17

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资料简介

X光底片作为记录缺陷形状、大小、数量的介质，其好坏对于无损检测人员做出正确分析和判断至关重要。总结了三门CV底封头拍摄过程中X光底片上伪缺陷产生的原因，并提出了相应的防止方法，可为以后的工作提供参考。

所属栏目

实践经验

收稿日期

2011/6/17

作者单位

聂炯:山东核电设备制造有限公司，海阳265118

备注

聂炯(1987-)，男，助理工程师，从事核设备无损检测技术相关工作。

引用该论文:

NIE Jiong.False Fault on X-Ray Film of Safety Case of NPP and its Prevention Methods[J].Nondestructive Testing,2012,34(2):68～69
聂炯.核电站安全壳X光底片伪缺陷的产生及防止办法[J].无损检测,2012,34(2):68～69


参考文献

【1】

ASME锅炉及压力容器规范—2004ASME锅炉及压力容器委员会无损检测分委员会［S］.

【2】

强天鹏.射线检测［M］.北京：全国锅炉压力容器无损检测人员资格考核委员会,1998.

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【关键词】 安全壳 X光底片 伪缺陷 防止办法  聂炯

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