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GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2017-05-29

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    共享学习

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    PDF

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资料简介

利用X射线DR成像技术对盆式绝缘子进行可视化无损检测,在不拆解和破坏GIS (气体绝缘全封闭组合电器)设备的情况下,实现了对盆式绝缘子的透照及缺陷检测;利用正交试验法找出了X射线机透照的最优参数设置,减少了试验次数,提高了试验效率。结果表明,X射线DR成像技术可以识别出盆式绝缘子的裂纹和气泡类缺陷。

所属栏目

试验研究南方电网科技资助项目(GDKJ00000035)

收稿日期

2017/5/29

作者单位

钟飞:广东电网有限责任公司电力科学研究院, 广州 510080
张晓春:广东电网有限责任公司电力科学研究院, 广州 510080
黄升平:广东电网有限责任公司电力科学研究院, 广州 510080
张梦岑:湖南大学 电气与信息工程学院, 长沙 410082
王冲:湖南大学 电气与信息工程学院, 长沙 410082
聂铭:广东电网有限责任公司电力科学研究院, 广州 510080
李顺华:广东电网有限责任公司电力科学研究院, 广州 510080
刘国特:广东电网有限责任公司电力科学研究院, 广州 510080

联系人作者

钟飞(zhongfei@emails.bjut.edu.cn)

备注

钟飞(1979-),男,博士,高级工程师,主要从事电力器材和材料的无损检测工作

引用该论文:

ZHONG Fei,ZHANG Xiaochun,HUANG Shengping,ZHANG Mengcen,WANG Chong,NIE Ming,LI Shunhua,LIU Guote.The X-DR Imaging Detection of Simulation Defect in GIS Basin-Type Insulator[J].Nondestructive Testing,2018,40(1):45~49
钟飞,张晓春,黄升平,张梦岑,王冲,聂铭,李顺华,刘国特.GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测[J].无损检测,2018,40(1):45~49


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【关键词】 X-DR成像技术 盆式绝缘子 无损检测 正交试验 缺陷检测  钟飞 张晓春 黄升平 张梦岑 王冲 聂铭 李顺华 刘国特

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