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暗室处理引起的底片质量问题及其预防
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2012-02-05

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    PDF

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资料简介

对由于暗室处理不当而引起的底片质量问题进行了归纳和总结,分析了常见底片伪缺陷的种类、产生原因、识别方法,提出了一些预防措施和解决方法,并将这些方法应用于工程实践中,取得了良好的效果。

所属栏目

试验研究

收稿日期

2012/2/5

作者单位

孟震:必维质量技术服务上海有限公司,上海200121

备注

孟震(1976-),男,工程师,工学学士,从事焊接及无损检测技术工作。

引用该论文:

MENG Zhen.Films Quality Issue and Prevention During Darkroom Processing[J].Nondestructive Testing,2013,35(3):45~47
孟震.暗室处理引起的底片质量问题及其预防[J].无损检测,2013,35(3):45~47


被引情况:

【1】

王勇,蓝锦,刘志权, "一种手摇式伽马探伤机的附加传动装置",无损检测 37, 78-79(2015)

【2】

王勇,吴凯,陈海英,肖俊, "一种辨别暗袋曝光的方法",无损检测 37, 82-83(2015)
参考文献

【1】

强天鹏.射线检测[M].北京:中国劳动社会保障出版社,2007.

【2】

ASME Ⅴ—2007-22 SE-999工业射线照相胶片处理质量控制标准指南[S].

【3】

GB/T 9348—1998无损检测工业射线照相胶片[S].

【4】

JBT 4730.2—2005承压设备无损检测 第二部分射线检测[S].

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【关键词】 暗室 底片 伪缺陷  孟震

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