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基于X射线实时成像技术的产品缺陷检测
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2016-08-10

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    PDF

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资料简介

X射线实时成像技术可以检测低密度粉末冶金产品中的缺陷尺寸,但计算过程较为复杂。设计了评估缺陷尺寸的标尺,分析了标尺位置与检测准确度的相关性,简化了X射线实时成像检测粉末产品缺陷的评判过程,提高了工作效率,具有重要的工程应用价值。

所属栏目

试验研究

收稿日期

2016/8/10

作者单位

奚清:中国工程物理研究院材料研究所, 绵阳 621907
陈慧:中国工程物理研究院材料研究所, 绵阳 621907
李强:中国工程物理研究院材料研究所, 绵阳 621907
段建国:中国工程物理研究院材料研究所, 绵阳 621907
赵海晏:中国工程物理研究院材料研究所, 绵阳 621907

联系人作者

奚清(1768038607@qq.com)

备注

奚清(1970-),男,技师,主要从事无损检测工作。

引用该论文:

XI Qing,CHEN Hui,LI Qiang,DUAN Jian-guo,ZHAO Hai-yan.Measurement of Product Defects Based on the X Ray Real Time Imaging Detection[J].Nondestructive Testing,2017,39(2):61~63
奚清,陈慧,李强,段建国,赵海晏.基于X射线实时成像技术的产品缺陷检测[J].无损检测,2017,39(2):61~63


参考文献

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【关键词】 X射线实时成像 缺陷 测量  奚清 陈慧 李强 段建国 赵海晏

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