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荧光磁粉表面缺陷检测系统
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2016-06-30

  • 授权方式:

    共享学习

  • 资料格式:

    PDF

  • 软件等级:

  • 官方主页:

    http://www.ndt88.com

资料简介

介绍了荧光磁粉检测缺陷自动识别系统的工作原理、结构及数字图像处理技术,包括从CCD相机中提取原始图像、中值滤波、边缘检测和图像二值化等;同时,分析了荧光磁粉的物理特性和光源的特性及其打光方式,介绍了系统光学结构的设计。使用该系统对缺陷进行检测验证试验,结果表明,该系统可有效识别出直径0.5 mm的圆形缺陷和长度1.5 mm的线性缺陷。

所属栏目

仪器研制

收稿日期

2016/6/30

作者单位

高敏杰:南京理工大学 机械工程学院, 南京 210094
卜雄洙:南京理工大学 机械工程学院, 南京 210094
孙斌:南京理工大学 机械工程学院, 南京 210094
王正成:南京理工大学 机械工程学院, 南京 210094
张振:南京晨光集团有限责任公司, 南京 210094

联系人作者

卜雄洙(buxu105@njust.edu.cn)

备注

高敏杰(1992-),男,硕士研究生,主要从事无损检测图像处理方面的工作。

引用该论文:

GAO Min-jie,BU Xiong-zhu,SUN Bin,WANG Zheng-cheng,ZHANG Zhen.The Surface Defect Detection System of Fluorescent Magnetic Particle[J].Nondestructive Testing,2017,39(2):67~70
高敏杰,卜雄洙,孙斌,王正成,张振.荧光磁粉表面缺陷检测系统[J].无损检测,2017,39(2):67~70


参考文献

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【关键词】 荧光磁粉检测 数字图像处理 中值滤波 二值化  高敏杰 卜雄洙 孙斌 王正成 张振

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