依据对磁记忆效应的法向分量过零点及切向分量最大值位置同时进行检测的磁记忆二维检测原理，设计研制了以微处理器为核心的新型磁记忆检测仪器。并通过实际工件的检测，试验验证了仪器工作的可行性，可望为进一步开展磁记忆二维检测定量分析提供有效的方法和试验依据。

所属栏目

仪器研制国家自然科学基金资助项目(51065022)；江西省仪器科学与技术学科研究生教育创新基地资助项目

收稿日期

2012/9/29

作者单位

任吉林:南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室，南昌330063
王振:南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室，南昌330063
饶琪:南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室，南昌330063
宋凯:南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室，南昌330063
陈曦:南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室，南昌330063

备注

任吉林(1945-)，男，教授，中国无损检测学会副理事长，长期从事电磁无损检测技术教学与研究工作。

引用该论文:

REN Ji-Lin,WANG Zhen,RAO Qi,SONG Kai,CHEN Xi.A New-type Testing Instruments for Magnetic Memory[J].Nondestructive Testing,2013,35(4):70～74
任吉林,王振,饶琪,宋凯,陈曦.新型磁记忆检测仪器[J].无损检测,2013,35(4):70～74

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