在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术(X-TICT)中，X射线透射物质时，发生了Compton光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。因此,必须进行散射修正。利用X射线透射物质时X光子散射遵循的Compton散射强度方程，结合X射线与物质相互作用的特性，建立了有效去除X-TICT在复合材料工件检测中光子散射问题造成的图像伪影的散射修正模型。探头的总计数减去散射光子数，即可有效去除X-TICT在复合材料工件检测中散射光子造成的伪影。

所属栏目

科研成果与学术交流湖南省教育厅资助科研项目(06C606)；湖南省“十一五”重点建设学科——光学基金资助项目

收稿日期

2005/11/29

作者单位

彭光含:湖南文理学院 物电系，常德 415000
蔡新华:湖南文理学院 物电系，常德 415000
乔闹生:湖南文理学院 物电系，常德 415000
刘长青:湖南文理学院 物电系，常德 415000
杨学恒:重庆大学 数理学院，重庆 400044

备注

彭光含(1973-)，男，博士，讲师。从事工业计算机断层扫描成像技术和扫描隧道显微镜等的研究。

引用该论文:

PENG Guang-han,CAI Xin-hua,QIAO Nao-sheng,LIU Chang-qing,YANG Xue-heng.Scattering Correction for X-ray TICT in Testing Composites Workpiece[J].Nondestructive Testing,2007,29(4):181～184
彭光含,蔡新华,乔闹生,刘长青,杨学恒.X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术在复合材料工件检测中的散射修正[J].无损检测,2007,29(4):181～184

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