返回顶部
位置:标准分享网>无损检测论文>利用公用背底法提高X射线应力分析效率
利用公用背底法提高X射线应力分析效率
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2006-02-27

  • 授权方式:

    共享学习

  • 资料格式:

    PDF

  • 软件等级:

  • 官方主页:

    http://www.ndt88.com

资料简介

为了提高X射线应力分析的效率,提出了公用背底法对衍射线进行背底扣除。并利用模拟衍射线考察了对于不同峰形的衍射线、公用背底法对残余应力值的影响以及合理的背底取值范围。结果表明,对于峰背比较大的衍射线,公用背底法扣除背底对应力值没有影响,可用来进行应力测定;而对于峰背比较小的衍射线,不适合采用公用背底法扣除背底。利用公用背底法进行应力测定,可以大幅度缩减扫描范围,提高测定效率。

所属栏目

科研成果与学术交流

收稿日期

2006/2/27

作者单位

贺笑春:沈阳材料科学国家(联合)实验室,沈阳 110016
李家宝:沈阳材料科学国家(联合)实验室,沈阳 110016

备注

贺笑春(1976-),女,博士,从事无损检测工作。

引用该论文:

HE Xiao-chun,LI Jia-bao.On the Common Background Method for X-ray Stress Measurement[J].Nondestructive Testing,2007,29(4):185~188
贺笑春,李家宝.利用公用背底法提高X射线应力分析效率[J].无损检测,2007,29(4):185~188


参考文献

【1】

贺笑春,熊华波,徐建辉,等.X射线衍射线的计算机模拟[J].无损检测,2006,28(7):347-351.

【2】

Langford J I. A rapid method for analysing the breadths of diffraction and spectral lines using the Voigt function[J]. J Appl Cryst,1978,11(1):10-14.

【3】

Wu E, Gray E MacA, Kisi E H. Modelling dislocation induced anisotropic line broadening in Rietveld refinements using a Voigt function. I. General principles[J]. J Appl Cryst,1998,31(3):356-362.

【4】

徐寒冰.X射线应力分析设备的升级改造和X射线应力分析技术的某些应用[D].沈阳:中国科学金属研究所,1997.

【5】

南俊马,张定铨.关于应力测定中吸收因子计算方法的讨论[J].无损检测,1989,11(2):31-34.

【6】

王英华.X光衍射技术基础[M].北京:原子能出版社,1987.

【7】

Hilley M, Larson J A, Jatczak C F, et al. Residual Stress Measurement by X-ray Diffraction[D]. 2nd ed., SAE Information Report No. J784a. Warrendale: Society of Automotive Engineers,1971:19.

【8】

Kurita M, Hirayama H. An estimation of hardness of hardened steels by X-ray diffraction using a Gaussion curve-fitting method[J]. Journal of Testing and Evaluation,1984,12(1):13-19.

标准分享网无损检测论文频道,免费下载【利用公用背底法提高X射线应力分析效率】,仅供学习使用,不得商用,如需商用请购买正版利用公用背底法提高X射线应力分析效率。谢谢合作

【关键词】 模拟衍射线 残余应力 公用背底法 应力测定 半高宽 峰位角  贺笑春 李家宝

猜下面文档对你有所帮助
无损检测论文排行