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表面开口缺陷高度的测量方法对比

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2016-07-16

  • 授权方式：

    共享学习

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    PDF

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资料简介

表面开口类缺陷的检测和高度的测量对核电设备寿命的评估意义重大。分别利用常规超声端点衍射法与TOFD（衍射时差法）方法对表面开口缺陷的高度进行了测量并对结果进行了比较，得出结论：检测高度小于4 mm的开口缺陷时，常规超声端点衍射法分辨力下降严重；TOFD方法利用A扫信号可以区分1 mm高度的开口缺陷；随着表面开口缺陷高度的增加，两种方法测量结果基本一致。

所属栏目

试验研究

收稿日期

2016/7/16

作者单位

金晓明:中广核检测技术有限公司, 苏州 215004
余哲:中广核检测技术有限公司, 苏州 215004
孙加伟:中广核检测技术有限公司, 苏州 215004
肖学柱:中广核检测技术有限公司, 苏州 215004

联系人作者

金晓明(jingxiaoming20110805@cgnpc.com.cn)

备注

金晓明(1985-),男,工程师,主要从事核电站在役检查技术研究与超声波换能器开发工作

引用该论文:

JIN Xiaoming,YU Zhe,SUN Jiawei,XIAO Xuezhu.Comparison of Height Measurement Methods for Surface Breaking Defects[J].Nondestructive Testing,2018,40(4):58～61
金晓明,余哲,孙加伟,肖学柱.表面开口缺陷高度的测量方法对比[J].无损检测,2018,40(4):58～61


参考文献

【1】

王春艳,柯常波,陈铁群.表面开口裂纹高度的超声无损测定[J].压力容器,2008,25(12):49-52.

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【关键词】 端点衍射法 TOFD方法 开口缺陷  金晓明 余哲 孙加伟 肖学柱

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