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增感屏在9MeV X射线CR检测中的应用
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2016-09-21

  • 授权方式:

    共享学习

  • 资料格式:

    PDF

  • 软件等级:

  • 官方主页:

    http://www.ndt88.com

资料简介

介绍了计算机射线照相技术(CR)和增感屏技术的原理。采用9 MeV直线加速器X射线源、iCR3600+系统和CR UR-1型IP板等,试验了透照不同厚度钢板时,增感屏对IP板成像的增感效果。得到了透照不同厚度钢板时灵敏度最高的增感屏厚度,以为工程应用提供参考。

所属栏目

试验研究

收稿日期

2016/9/21

作者单位

杨明:中国人民解放军96630部队, 北京 102206
林德峰:中国人民解放军96630部队, 北京 102206
王冬:中国人民解放军96630部队, 北京 102206
薛冰:中国人民解放军96630部队, 北京 102206

联系人作者

杨明(ym751170@163.com)

备注

杨明(1980-),男,本科,工程师,主要从事射线检测工作

引用该论文:

YANG Ming,LIN Defeng,WANG Dong,XUE Bing.Application of Intensifying Screen in 9 MeV X-ray CR Detection[J].Nondestructive Testing,2017,39(6):33~35
杨明,林德峰,王冬,薛冰.增感屏在9MeV X射线CR检测中的应用[J].无损检测,2017,39(6):33~35


参考文献

【1】

郑世才. CR技术介绍[J]. 无损探伤, 2008, 32(5):1-10.

【2】

马海全,李蓓,何有都,等.CR技术与胶片射线照相技术检测能力的对比[J].无损检测,2015,37(12):38-45.

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【关键词】 CR系统 IP板 X射线照相 增感屏  杨明 林德峰 王冬 薛冰

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