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荧光磁粉检测中紫外线辐照度与白光照度的关系
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2008-01-28

  • 授权方式:

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资料简介

为在荧光检测时科学、合理地使用高强度紫外线,做了大量的荧光磁粉检测试验,得出紫外线辐照度u与白光照度v的对应关系曲线,并通过线性拟合得到了对应关系公式。研究结论在大量现场试验中得到了证实,填补了现行标准在荧光磁粉检测工艺方面的空白,具有重要意义。

所属栏目

试验研究铁道科学研究院金属及化学研究所应用研究资助项目(0552JH0302)

收稿日期

2008/1/28

作者单位

黄永巍:铁道科学研究院 金属及化学研究所,北京100081
高东海:铁道科学研究院 金属及化学研究所,北京100081
任明照:铁道科学研究院 金属及化学研究所,北京100081
高金生:齐齐哈尔铁路车辆(集团) 有限责任公司,齐齐哈尔161002

备注

黄永巍(1967-),男,高级工程师,学士,从事无损检测工艺技术研究。

引用该论文:

HUANG Yong-Wei,GAO Dong-Hai,REN Ming-Zhao,GAO Jin-Sheng.Research on the Relationship of Ultraviolet Light Intensity to White Light Intensity in Fluorescent Magnetic Particle Testing[J].Nondestructive Testing,2008,30(8):501~503
黄永巍,高东海,任明照,高金生.荧光磁粉检测中紫外线辐照度与白光照度的关系[J].无损检测,2008,30(8):501~503

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【关键词】 荧光磁粉检测 紫外线 白光 照度  黄永巍 高东海 任明照 高金生

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