脉冲涡流检测技术具有频谱宽、信号穿透能力强以及精确度好等优点。对脉冲涡流测厚技术进行了仿真, 即针对脉冲涡流测厚系统, 建立了有限元分析模型, 仿真分析了检测线圈上的电压的衰减规律, 得到了检测线圈上的电压随被测体厚度的变化规律, 确定了两者之间的定量关系。分析了提离距离、检测线圈参数和脉冲涡流频率对检测结果的影响。该研究为将来进行脉冲涡流测厚仪的研制提供了理论依据和数学模型。

所属栏目

科研成果与学术交流国家科技支撑计划课题资助项目(2006BAK02B02)

收稿日期

2008/9/4

作者单位

吴鑫:北京交通大学 机械与电子控制工程学院, 北京 100044
李方奇:北京交通大学 机械与电子控制工程学院, 北京 100044
石坤:中国特种设备检测研究院, 北京 100013
谢基龙:北京交通大学 机械与电子控制工程学院, 北京 100044
李浩:北京交通大学 机械与电子控制工程学院, 北京 100044

备注

吴鑫(1972-), 男, 讲师, 博士, 主要从事电磁场仿真、电力电子技术、检测设备开发、图像处理及模式识别工作。

引用该论文:

WU Xin,LI Fang-Qi,SHI Kun,XIE Ji-Long,LI Hao.Thickness Measurement Technique by Pulsed Eddy Current[J].Nondestructive Testing,2009,31(7):528～530
吴鑫,李方奇,石坤,谢基龙,李浩.脉冲涡流测厚技术[J].无损检测,2009,31(7):528～530

参考文献

【1】

李家伟, 陈积懋.无损检测手册[M].北京: 机械工业出版社, 2002.

【2】

Sophian A, Tian G Y, Talyor D, et al. A feature extraction technique based on principal component analysis for pulse eddy current NDT[J]. NDT & E International, 2003, 36(1): 37-41.

【3】

王春艳, 陈铁群, 张欣宇.脉冲涡流检测技术的某些进展[J].无损探伤, 2005, 29(4): 1-4.

【4】

Dai X W, Ludwig R, Palanisamy R. Numerical simulation of pulse eddy current nondestructive testing phenomena[J]. IEEE Transactions on Magnetics, 1990, 26(6): 3089-3096.

【5】

Patel U, Rodger D. Finite element modeling of pulsed eddy current for nondestructive testing[J]. IEEE Transactions on Magnetics, 1996, 32(3): 1593-1596.

【6】

Pavo J. Numerical calculation method for pulsed eddy current testing[J]. IEEE Transactions on Magnetics, 2002, 38(2): 1169-1172.