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微区残余应力的毛细管X射线透镜检测方法
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2016-12-06

  • 授权方式:

    共享学习

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资料简介

针对现有小功率残余应力仪在进行微区应力检测时,存在衍射强度低导致测试准确度低、稳定性差等问题,阐述了一种毛细管X射线透镜结合应力仪实现微区应力检测的方法。采用基于全反射原理的透镜,通过对X射线的调控,形成微区照射面积,将相同照射面积下的光强度提高数十倍,且在衍射半高宽适度增大的情况下,对检测出的应力值影响不大。

所属栏目

试验研究

收稿日期

2016/12/6

作者单位

郭非:1. 中国石油物资公司, 北京 100029
2. 北京市辐射中心, 北京 100875
安宁:1. 中国石油物资公司, 北京 100029
2. 北京市辐射中心, 北京 100875
吴思宇:1. 中国石油物资公司, 北京 100029
2. 北京市辐射中心, 北京 100875
周鹏:1. 中国石油物资公司, 北京 100029
2. 北京市辐射中心, 北京 100875
刘芯:1. 中国石油物资公司, 北京 100029
2. 北京市辐射中心, 北京 100875
李玉德:1. 中国石油物资公司, 北京 100029
2. 北京市辐射中心, 北京 100875

联系人作者

郭非(guofei2004@sina.com)

备注

郭非(1990-),男,硕士研究生,主要从事无损检测、应力分析、毛细管光学透镜研制等工作

引用该论文:

GUO Fei,AN Ning,WU Siyu,ZHOU Peng,LIU Xin,LI Yude.The Method of Capillary X-ray Lens Measurement of Micro-area Residual Stress[J].Nondestructive Testing,2017,39(7):65~68
郭非,安宁,吴思宇,周鹏,刘芯,李玉德.微区残余应力的毛细管X射线透镜检测方法[J].无损检测,2017,39(7):65~68


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【关键词】 毛细管X射线透镜 残余应力 微区  郭非 安宁 吴思宇 周鹏 刘芯 李玉德

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