为一次性检测出三层不导磁平板导体的各层厚度及各层电导率，利用电磁场理论建立了正问题求解模型，推导了三层不导磁平板导体上方空心圆柱线圈的散射场阻抗表达式，试验验证了该表达式的正确性；建立了反问题求解模型，使用最优化算法计算了反问题的解，根据一组不同激励频率点的线圈散射场阻抗测量值，计算出了三层不导磁平板导体的各层厚度及各层电导率。试验结果表明，反演结果可靠。

所属栏目

试验研究国家自然科学基金资助项目(50777002)

收稿日期

2012/9/18

作者单位

任芳芳:北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院，北京100191
雷银照:北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院，北京100191

备注

任芳芳(1988-)，女，硕士研究生，主要从事电磁无损检测方法与技术研究工作。

引用该论文:

REN Fang-Fang,LEI Yin-Zhao.Thickness and Conductivity Measurement of Three-Layered Plane Conductors Based on Harmonic Eddy Current Testing[J].Nondestructive Testing,2013,35(8):50～53
任芳芳,雷银照.三层平板导体厚度及电导率的涡流检测[J].无损检测,2013,35(8):50～53

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