工业计算机断层扫描成像中，由于X射线能谱具有多色性,X射线在透射物质时，能量较低的射线优先被吸收，也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小，射线随透射厚度增大，变得更易穿透，即发生了能谱硬化现象。对能谱硬化现象进行了分析，利用Beer定律和X射线与物质作用的特点，提出了能谱硬化修正模型和数值分析，结合Simpson公式，导出了X射线TICT中修正模型的数值解法及其修正方法。对修正后的衰减系数再作卷积反投影重构，即可有效消除能谱硬化造成的影响。

所属栏目

科研成果与学术交流国家科委“八五”火炬计划项目；湖南省教育厅资助科研项目(06C606)；湖南文理学院资助项目(JJQD05051)；湖南省“十一五”重点建设学科——光学基金资助项目。

收稿日期

2006/3/7

作者单位

彭光含:湖南文理学院 物电系，常德 415000
蔡新华:湖南文理学院 物电系，常德 415000
杨学恒:重庆大学数理学院，重庆 400044

备注

彭光含(1973-)，男，讲师，博士，从事工业计算机断层扫描成像技术和扫描隧道显微镜等研究。

引用该论文:

PENG Guang-han,CAI Xin-hua.Numerical Analysis of Hardening Correction Model of Energy Spectrum for X-ray TICT[J].Nondestructive Testing,2007,29(8):457～460
彭光含,蔡新华,杨学恒.X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析[J].无损检测,2007,29(8):457～460

参考文献

【1】

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【2】

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【3】

彭光含，杨学恒，韩 忠，等.连续谱X射线在ICT中的能谱硬化修正模型［J］.光谱学与光谱分析,2005,25(11):1880-1883.

【4】

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【5】

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