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GIS设备导体缺陷X射线数字成像检测及缺陷产生原因分析
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2016-12-29

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    共享学习

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    PDF

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资料简介

采用X射线数字成像系统对气体绝缘金属封闭开关变电站(GIS)设备导体进行检测,发现导体焊接部位存在裂纹、未熔合等缺陷。经解体检查,X射线数字成像结果与实物缺陷一致。同时,理化试验结果表明,焊接工艺不当是导致导体产生缺陷的根本原因,并提出相应的解决措施。

所属栏目

实践经验

收稿日期

2016/12/29

作者单位

胡加瑞:国网湖南省电力公司电力科学研究院, 长沙 410007
李文波:国网湖南省电力公司电力科学研究院, 长沙 410007
刘纯:国网湖南省电力公司电力科学研究院, 长沙 410007
陈红冬:国网湖南省电力公司电力科学研究院, 长沙 410007
谢亿:国网湖南省电力公司电力科学研究院, 长沙 410007

联系人作者

胡加瑞(564802374@qq.com)

备注

胡加瑞(1984-),男,工程师,主要从事电力系统金属部件失效分析工作

引用该论文:

HU Jiarui,LI Wenbo,LIU Chun,CHEN Hongdong,XIE Yi.Detection of GIS Equipment Conductor Defects by X-ray Digital Imaging and Analysis of Defect Causes[J].Nondestructive Testing,2017,39(9):76~79
胡加瑞,李文波,刘纯,陈红冬,谢亿.GIS设备导体缺陷X射线数字成像检测及缺陷产生原因分析[J].无损检测,2017,39(9):76~79


参考文献

【1】

李继胜,赵学风,杨景刚,等.GIS典型缺陷局部放电测量与分析[J].高电压技术,2009,35(10): 2440-2445.

【2】

罗俊华,赵中原,邱毓昌,等.局部放电信号三维图谱的分形特征研究 [J].高电压技术,2001, 27(6):24-25.

【3】

李大勇.GIS设备故障原因分析及对策[J].中国科技信息,2011(6):98-99.

【4】

李强,孙朝明.数字射线检测中图像评定尺的设计与应用[J].无损检测,2011,33(4):33-35.

【5】

杨再华,李玉和,李庆祥,等.基于边缘特征提取的图像清晰度评价函数[J].计算机工程与应用, 2005,41(10):35-36.

【6】

杨卫.宏微观断裂力学[M].北京:国防工业出版社,1995.

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【关键词】 X射线数字成像 GIS设备 导体 缺陷检测  胡加瑞 李文波 刘纯 陈红冬 谢亿

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