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新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用
  • 资料大小:

  • 更新时间:

    2005-03-14

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    PDF

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  • 官方主页:

    http://www.ndt88.com

资料简介

介绍非晶硅(a-Si)平板探测器的技术特性,及其取代常用的图像增强器在焊缝和铸件的工业射线实时成像(RTR)检测中的应用。试验结果证明,选用适当型号的a-Si平板探测器,可获得优于图像增强器的像质计(IQI)灵敏度和空间分辨率。

所属栏目

仪器方法

收稿日期

2005/3/14

作者单位

李 衍:无锡华光锅炉股份有限公司,无锡 214028

备注

李 衍(1940~),男,高级工程师。ASME产品责任工程师,负责重大和出国产品的无损检测工作。

引用该论文:

LI Yan.Application of a New Generation of X-ray Sensitive Detectors in Real-time Radioscopic Inspection[J].Nondestructive Testing,2006,28(9):488~490
李 衍.新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用[J].无损检测,2006,28(9):488~490


参考文献

【1】

Purschke M. IQI- sensitivity and applications of flat-panel detectors and X-ray image intensifiers —— a comparison\[J\]. INSIGHT,2002,44(10):628-630.

【2】

Mohr GA. GE a-Si flat-panel detector performance in industrial digital radiography\[J\]. INSIGHT,2002,44(10):631-633.

【3】

EN 13068-3:1999, Non-destructive testing——Radioscopic testing - Part 3:General principles of radioscopic testing of metallic materials by X- and gamma rays\[S\].

【4】

EN 13068-1:1999, Non-destructive testing——Radioscopic testing-Part 1:Quantitative measurement of imaging properties[S].

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【关键词】 非晶硅(a-Si) 平板探测器 图像增强器 射线实时成像 射线直接数字成像 像质计灵敏度 空间分辨率   

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