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计算机射线照相(CR)技术参数对灵敏度的影响

  • 资料大小：

  • 更新时间：

    2011-05-31

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资料简介

就目前业界普遍关注的计算机射线照相(CR)中各参数对检测灵敏度的影响问题进行了分析。试验验证了X射线管电压、曝光量、不同成像板型号和扫描参数对像质计灵敏度的影响规律。最后提出了CR技术应用中需要注意的问题。

所属栏目

2011年远东无损检测论坛论文精选

收稿日期

2011/5/31

作者单位

王军:江苏省特种设备安全监督检验研究院，南京210003
强天鹏:江苏省特种设备安全监督检验研究院，南京210003

备注

王军(1966-)，男，本科，高级工程师，主要从事无损检测及压力容器和压力管道的检验工作。

引用该论文:

WANG Jun,QIANG Tian-Peng.The Effec of Technical Parameters for the Sensitivity of Computed Radiographic Testing[J].Nondestructive Testing,2011,33(10):50～52
王军,强天鹏.计算机射线照相(CR)技术参数对灵敏度的影响[J].无损检测,2011,33(10):50～52


参考文献

【1】

强天鹏.射线检测［M］.北京：中国劳动社会保障出版社,2007.

【2】

ASTM E 2445—2005无损检测计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法［S］.

【3】

ASTM E 2446—2005无损检测计算机射线照相系统的分类［S］.

【4】

EN 14784-1—2005无损检验存储式磷成像板工业计算机射线照相第1部分：系统分类［S］.

【5】

EN 14784-2—2005无损检测存储式磷成像板工业计算机射线照相第2部分：用X射线和γ射线检测金属材料的一般原则［S］.

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【关键词】 计算机射线照相(CR) 系统参数 灵敏度  王军 强天鹏

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