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红外热波检测中热像信号重建引起的伪缺陷现象
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  • 更新时间:

    2011-05-30

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资料简介

在脉冲热激励红外热波检测中,热像信号重建技术(TSR)常用来分析和处理试验结果。该方法的特色是可以增加热像序列的空间和时间分辨率,提高信噪比,减少数据量。同时,该方法还能消除某些伪缺陷的干扰,比如脉冲闪光灯和热像仪镜头的反射所带来的伪缺陷。但是TSR是基于对温度变化曲线进行多项式曲线拟合的,而多项式曲线拟合中,拟合阶数和数据长度对拟合结果影响较大,在某些情况下可能会产生伪缺陷。阐述了热波数据重建技术原理,并以试件表面处于热不平衡状态和表面不均匀进行试验的结果来分析由于数据重建技术所产生的伪缺陷。

所属栏目

2011年远东无损检测论坛论文精选国家自然科学基金资助项目(10804078)

收稿日期

2011/5/30

作者单位

孔德娟:北京市太赫兹波谱与成像重点实验室,太赫兹光电子学省部共建教育部重点实验室,首都师范大学 物理系,北京100048
陶宁:北京市太赫兹波谱与成像重点实验室,太赫兹光电子学省部共建教育部重点实验室,首都师范大学 物理系,北京100048
曾智:北京市太赫兹波谱与成像重点实验室,太赫兹光电子学省部共建教育部重点实验室,首都师范大学 物理系,北京100048
和瑞刚:北京市太赫兹波谱与成像重点实验室,太赫兹光电子学省部共建教育部重点实验室,首都师范大学 物理系,北京100048

备注

孔德娟(1986-),女,硕士研究生,研究方向为红外热波无损检测。

引用该论文:

KONG De-Juan,TAO Ning,ZENG Zhi,HE Rui-Gang.The Phenomenon of Pseudo-Defect Caused by Thermographic Signal Reconstruction in Pulsed Thermography Testing[J].Nondestructive Testing,2011,33(12):40~42
孔德娟,陶宁,曾智,和瑞刚.红外热波检测中热像信号重建引起的伪缺陷现象[J].无损检测,2011,33(12):40~42


参考文献

【1】

Meola Carosena, Carlomagno Giovanni M, Giorleo Luca. The use of infrared thermography formaterials characterization[J]. Journal of Materials Processing Technology,2004(155-156):1132-1137.

【2】

Shepard Steven M, Lhota James R, Hou Yulin, et al. Blind characterization of materials using single-sided thermography[J]. Proc of SPIE,2004(5405):442-446.

【3】

Shepard Steven M, Lhota James R. Reconstruction and enhancement of active thermographic image sequences[J]. Opt Eng,2003,42(5):1337-1342.

【4】

Wang Xun. Pulse2echo thermal wave imaging of metalsand composite[D]. Master Thesis, Wayne state Univ, Applied Physics,2001.

【5】

Maldague X, Marinetti S. Pulse phase infrared thermography[J]. J Appl Phys,1996(79):2694-2698.

【6】

Shepard S M. Flash thermography of aerospace composites[EB/OL]. 2007-10-22/27, http://www.ndt.net/article/panndt2007/papers/132.pdf.

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【关键词】 热像信号重建 伪缺陷 均匀性  孔德娟 陶宁 曾智 和瑞刚

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